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Ieee Transactions On Instrumentation And Measurement SCIE

國(guó)際簡(jiǎn)稱：IEEE T INSTRUM MEAS  參考譯名：儀器儀表和測(cè)量的IEEE Transactions

主要研究方向：工程技術(shù)-工程：電子與電氣  非預(yù)警期刊  審稿周期： 約6.8個(gè)月

《儀器儀表和測(cè)量的IEEE Transactions》(Ieee Transactions On Instrumentation And Measurement)是一本由Institute of Electrical and Electronics Engineers Inc.出版的以工程技術(shù)-工程：電子與電氣為研究特色的國(guó)際期刊，發(fā)表該領(lǐng)域相關(guān)的原創(chuàng)研究文章、評(píng)論文章和綜述文章，及時(shí)報(bào)道該領(lǐng)域相關(guān)理論、實(shí)踐和應(yīng)用學(xué)科的最新發(fā)現(xiàn)，旨在促進(jìn)該學(xué)科領(lǐng)域科學(xué)信息的快速交流。該期刊是一本未開放期刊，近三年沒(méi)有被列入預(yù)警名單。該期刊享有很高的科學(xué)聲譽(yù)，影響因子不斷增加，發(fā)行量也同樣高。

  • 2區(qū) 中科院分區(qū)
  • Q1 JCR分區(qū)
  • 2247 年發(fā)文量
  • 5.6 IF影響因子
  • 未開放 是否OA
  • 100 H-index
  • 1952 創(chuàng)刊年份
  • Bimonthly 出版周期
  • English 出版語(yǔ)言

Papers are sought that address innovative solutions to the development and use of electrical and electronic instruments and equipment to measure, monitor and/or record physical phenomena for the purpose of advancing measurement science, methods, functionality and applications. The scope of these papers may encompass: (1) theory, methodology, and practice of measurement; (2) design, development and evaluation of instrumentation and measurement systems and components used in generating, acquiring, conditioning and processing signals; (3) analysis, representation, display, and preservation of the information obtained from a set of measurements; and (4) scientific and technical support to establishment and maintenance of technical standards in the field of Instrumentation and Measurement.

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Ieee Transactions On Instrumentation And Measurement期刊信息

  • ISSN：0018-9456
  • 出版語(yǔ)言：English
  • 是否OA：未開放
  • E-ISSN：1557-9662
  • 出版地區(qū)：UNITED STATES
  • 是否預(yù)警：否
  • 出版商：Institute of Electrical and Electronics Engineers Inc.
  • 出版周期：Bimonthly
  • 創(chuàng)刊時(shí)間：1952
  • 開源占比：0.0774
  • Gold OA文章占比：6.42%
  • OA被引用占比：0
  • 出版國(guó)人文章占比：0.31
  • 出版撤稿占比：0
  • 研究類文章占比：99.47%

Ieee Transactions On Instrumentation And Measurement CiteScore評(píng)價(jià)數(shù)據(jù)（2024年最新版）

CiteScore SJR SNIP CiteScore 指數(shù)
9 1.536 1.741
學(xué)科類別 分區(qū) 排名 百分位
大類：Physics and Astronomy 小類：Instrumentation Q1 13 / 141

91%
大類：Physics and Astronomy 小類：Electrical and Electronic Engineering Q1 114 / 797

85%

名詞解釋：CiteScore 是衡量期刊所發(fā)表文獻(xiàn)的平均受引用次數(shù)，是在 Scopus 中衡量期刊影響力的另一個(gè)指標(biāo)。當(dāng)年CiteScore 的計(jì)算依據(jù)是期刊最近4年（含計(jì)算年度）的被引次數(shù)除以該期刊近四年發(fā)表的文獻(xiàn)數(shù)。例如，2022年的 CiteScore 計(jì)算方法為：2022年的 CiteScore =2019-2022年收到的對(duì)2019-2022年發(fā)表的文件的引用數(shù)量÷2019-2022年發(fā)布的文獻(xiàn)數(shù)量 注：文獻(xiàn)類型包括：文章、評(píng)論、會(huì)議論文、書籍章節(jié)和數(shù)據(jù)論文。

Ieee Transactions On Instrumentation And Measurement中科院評(píng)價(jià)數(shù)據(jù)

中科院 2023年12月升級(jí)版

Top期刊 綜述期刊 大類學(xué)科 小類學(xué)科
是 否 工程技術(shù) 2區(qū) ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程：電子與電氣 INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION 儀器儀表 2區(qū) 2區(qū)

中科院 2022年12月升級(jí)版

Top期刊 綜述期刊 大類學(xué)科 小類學(xué)科
否 否 工程技術(shù) 2區(qū) ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程：電子與電氣 INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION 儀器儀表 2區(qū) 2區(qū)

中科院 2021年12月舊的升級(jí)版

Top期刊 綜述期刊 大類學(xué)科 小類學(xué)科
否 否 工程技術(shù) 2區(qū) ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程：電子與電氣 INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION 儀器儀表 2區(qū) 2區(qū)

中科院 2021年12月基礎(chǔ)版

Top期刊 綜述期刊 大類學(xué)科 小類學(xué)科
否 否 工程技術(shù) 3區(qū) ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程：電子與電氣 INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION 儀器儀表 3區(qū) 2區(qū)

中科院 2021年12月升級(jí)版

Top期刊 綜述期刊 大類學(xué)科 小類學(xué)科
否 否 工程技術(shù) 2區(qū) ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程：電子與電氣 INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION 儀器儀表 2區(qū) 2區(qū)

中科院 2020年12月舊的升級(jí)版

Top期刊 綜述期刊 大類學(xué)科 小類學(xué)科
否 否 工程技術(shù) 2區(qū) ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程：電子與電氣 INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION 儀器儀表 2區(qū) 2區(qū)

Ieee Transactions On Instrumentation And Measurement JCR評(píng)價(jià)數(shù)據(jù)（2023-2024年最新版）

按JIF指標(biāo)學(xué)科分區(qū) 收錄子集 分區(qū) 排名 百分位
學(xué)科：ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC SCIE Q1 53 / 352

85.1%
學(xué)科：INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION SCIE Q1 9 / 76

88.8%
按JCI指標(biāo)學(xué)科分區(qū) 收錄子集 分區(qū) 排名 百分位
學(xué)科：ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC SCIE Q1 52 / 354

85.45%
學(xué)科：INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION SCIE Q1 7 / 76

91.45%

Ieee Transactions On Instrumentation And Measurement歷年數(shù)據(jù)統(tǒng)計(jì)

影響因子
中科院分區(qū)

Ieee Transactions On Instrumentation And Measurement中國(guó)學(xué)者發(fā)文選摘

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免責(zé)聲明

若用戶需要出版服務(wù)，請(qǐng)聯(lián)系出版商：IEEE-INST ELECTRICAL ELECTRONICS ENGINEERS INC, 445 HOES LANE, PISCATAWAY, USA, NJ, 08855-4141。